En nuestro laboratorio disponemos de una gran
variedad de equipos de medida y prueba con los que hemos automatizado un importante número de técnicas de caracterización eléctrica y óptica de
materiales y dispositivos semiconductores. Las técnicas han sido automatizadas
mediante el software Agilent VEE y LabVIEW.
Mediante el uso de criostatos de nitrógeno líquido, podemos
realizar medidas eléctricas desde temperaturas de alrededor de 77 K.
Los principales equipos de los que disponemos en el
laboratorio son los siguientes:
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Mesa de puntas Cascade Microtech junto con microscopio Leica
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Equipo de wire-bonding tpt HB05 junto con microscopio Leica
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2 criostatos de nitrógeno líquido Oxford Instruments junto con controladores de temperatura
Oxford Instruments ITC502 e ITC503.
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Sistema de caracterización de semiconductores Keithley 4200-SCS.
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Analizador de parámetros en continua de semiconductores HP 4155B.
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| Analizadores de impedancia Agilent 4294A (40 Hz -11 MHz) y Agilent 4287A (1 MHz - 3
GHz). |
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| Capacímetros a 1 MHz Boonton 72 B (Analógico) y HP 4280A (Digital). |
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| Amplificadores Lock-In Stanford Research Systems SR844 y EG&G 5210. |
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| Osciloscopios digitales Tektronix TDS5052, HP 54615B y HP54501A. |
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| Generadores de señal Agilent 33500B y HP 33120A. |
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| Generadores de pulsos HP 81104A y HP 8112A. |
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| Electrómetros programables Keithley 6517A y Keithley 617. |
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Baño térmico.
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Analizador lógico HP 54620A.
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